300kV高分辨透射电子显微镜
浙江工业大学
荷兰 Philips-FEI 公司,Tecnai G2 F30 S-Twin
浙江省
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所有仪器

分析仪器

检测范围

主要用于无机材料的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析,及各种材料微区化学成分的定性和定量检测。广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学、金属、半导体、高分子、陶瓷、纳米材料等。

仪器参数

1.信息分辨率极限:0.14nm,2.点分辨率:0.20nm,3.线分辨率:0.10nm,4.高分辨STEM分辨率:0.17nm,5.样品最大倾角:±40o

仪器特色&服务特色

具体见典型案例
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