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X射线粉末衍射仪
浙江师范大学
荷兰飞利浦公司，PW 3040/60
浙江省
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检测范围

可对固体样品的物相结构进行定性、定量分析，能在控制气氛和程序控温条件下现场原位分析物质结构的变化。水平放置样品，可对微量样品进行测试；全计算机化的操作控制，功能强大的数据分析软件。X Celerator Detection system 超能检测器的配备，可使录谱强度与正比计数器相比

仪器参数

1. 射线源：Cu靶，2θ角扫描范围：0.2–150°， 测角仪精确度：0.001°。 2. Anton Paar TCU 750原位样品室控温范围：室温至900℃，控制精度：0.1℃。
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