检测范围
测定无机物、有机物和金属配合物等单晶物质的三维空间结构和电子云密度，分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料的结构。
仪器参数
1.采用高灵敏度CMOS探测器，像素1024×1024，有效面积100mm×100mm，Shuttles技术，读出死时间为零，测样速度快2.测角仪采用四圆kappa测角仪，四个角度均可转动，方便快捷3.配备最新的微焦斑Cu、Mo光源和多层膜光学部件，Cu/Mo靶可自动切换，与普通光管相比，光强度可提高8~10倍，可方便测定小尺寸的晶体4.配置低温系统，测量温度范围80K~500K
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