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低温显微荧光测试系统(LowTemperatureMicroscopicPhotoluminescenceSystem)
郑州大学
AndorTechnologyCo.,Ltd，AndorSR-500i-B2
河南省
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检测范围

对半导体材料光致发光谱进行测量。

仪器参数

冷头变温范围：4.2K~450K；显微镜专用L型设计，样品位置温度7K；冷头与膨胀头分离，软连接确保超低震动；极限震动55%；像元尺寸：26umX26um；
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