场发射扫描式电子显微镜-测试100仪器共享平台

首页 > 所有仪器> 电子光学 > 场发射扫描式电子显微镜

场发射扫描式电子显微镜(Field Scanning Electronic Microscopy)
所在单位：	北京科技大学
品牌/型号：	蔡司公司，SUPRA55
所在地区：	北京市
仪器说明：	我们目前尚未与北京科技大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过点击此处提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：票正规发票合委托合同保交易担保退不满意退款优优选服务商

所有仪器

材料结构分析：断口，薄膜，粉末，高分子材料，纳米材料，半导体，等

分辨率1纳米，放大倍数90万倍，探头二次探头，INLENS，背散射探头，配能谱，波谱，EBSD

服务于采矿、冶金、材料等科学领域研究项目的实验分析与测试

如果找不到合适的仪器，您可以提交您的需求，由我们帮您匹配最优的服务商提交需求