检测范围
1.各种材料形貌观察和分析；2.材料微区成分分析；3.多晶材料的晶体取向和织构分析和3D重构；4.材料微纳结构的样品制备
仪器参数
SEM分辨率Resolution：1.0nm @ 15kV，1.9nm @ 1kV；放大倍数Mag.：12 ~ 1000,000x；加速电压EHT：0.1 ~ 30kV；FIB分辨率Resolution：2.5nm @ 30kV；放大倍数Mag.：300×～ 500,000×；加速电压EHT：1.0 ~ 30Kv
仪器特色&服务特色
服务于采矿、冶金、材料等科学领域研究项目的实验分析与测试
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