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X射线衍射仪(X Ray Diffractometer)
上海交通大学
Bruker AXS,Germany，Diffraktometer D8
上海市
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检测范围

分析薄膜、块体、粉末等各种样品的结构、织构等

仪器参数

1.精度高，角度重现性达0.0001度 2.元器件实现模块化设计，互换方便 3.GADDS：采用二维探测器，得到二维衍射信息 4.“纳米星”：完美的小角散射方案 5.组合化学衍射仪：超大量的样品库研究（如合成）
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