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离子减薄仪(Scanning Probe Microscope)
上海交通大学
美国FISCHIONE公司，离子减薄仪,Model 1050 TEM Mill
上海市
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检测范围

透射电镜样品制备，适合于金属、陶瓷和聚合物等材料。

仪器参数

两个离子源电压100eV~6.0KV连续可调 专利设计的实时聚焦系统，会根据加速电压的不同，自动调整聚焦磁场强度，聚焦离子束。（与永磁铁的固定磁场不同）确保在低电压时，也具有超高的能量密度 ?专用的样品夹技术，可以确保在零角度时的减薄时也没有污染。

仪器特色&服务特色

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