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透射电子显微镜(transmission electron microscopy)
上海交通大学
JEOL，JEM2100
上海市
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检测范围

通过各种衬度像，对材料进行形貌、晶粒尺寸等的分析；利用电子衍射等研究材料的微观组织结构和相的鉴定；利用EDS对样品进行成分的点分析

仪器参数

LaB6（六硼化镧）灯丝；加速电压200kV；束斑尺寸：1.0-25 nm；点分辨率：0.23 nm；线分辨率：0.14 nm；放大倍数（高倍）：2000-1500000；放大倍数（低倍）：50-6000；倾斜角：#177;35#186;
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