场发射透射电子显微镜
中南大学
美国FEI公司,Tecnai G2F20
湖南省
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所有仪器

分析仪器

检测范围

材料微观组织结构与成分研究

仪器参数

TEM点分辨率0.24nm;STEM分辨率0.20nm

仪器特色&服务特色

可在纳米尺度,对材料进行化学组成及化学键分析,例如:(1)碳材料的石墨化程度分析;(2)Si-SiO2界面分析
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