双束电子显微镜
中南大学
美国FEI公司,Helios Nanolab 600i
湖南省
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所有仪器

分析仪器

检测范围

微区形貌、EDSEBSD微纳加工

仪器参数

二次电子像分辨率0.9nm(15kV);离子像分辨率 4nm(30kV)

仪器特色&服务特色

可在(亚)微米尺度进行各种高难度透射电镜样品的原位、定点制备:(1)焊接界面;(2)复合材料中的相界面;(3)陨石材料中的相界面等。
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