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场发射透射电子显微镜(JEM-2100F)
中南大学
日本电子株式会社，JEOL-2100F
湖南省
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检测范围

材料的晶体结构、组织形貌进行常规TEM分析及高分辨显微学研究

仪器参数

加速电压200KV，超高分辨极靴，点分辨率为0.19nm，晶格分辨率为0.1nm

仪器特色&服务特色

给铝合金973项目、钛合金973项目及863项目提供检测分析服务
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