场发射扫描电子显微镜(Sirion200 Scanning Electron Microscope System)
中南大学
荷兰PHILIPS公司,Sirion200
湖南省
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检测范围

材料的形貌分析,材料的能谱分析

仪器参数

分辨率为1.44nm,最大放大倍数为40万倍,分析6-92号元素
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