透射电子显微镜(TEM(Transimission Electron Microscopy))
中南大学
美国FEI.Co公司,Tecnai G20ST
湖南省
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分析仪器

检测范围

衍射衬度像:主要用于观测晶体中的微纳尺度的微观组织结构,如位错,强化相等;质厚衬度像:主要用于观测纳米粉末,生物样品以及高分子样品;相衬相(高分辨像):主要用于晶体高分辨晶格相的观测;衍射花样:主要用于晶体结构的分析,位相关系分析;EDS分析:主要用于微区化

仪器参数

LaB6灯丝,最高加速电压:200kv;可用样品台:单倾/低背景双倾Be平台,α最大可倾转角度:±45,β最大可倾转角度:±35;EDS配件:EDAX公司能谱,可测元素范围B以上元素;最小标称电子束斑:10 nm;线分辨率:0.144nm;点分辨率:0.234nm;记录系统:平板照相机+gatan 794 慢扫描数码相机

仪器特色&服务特色

自设备运行以来,承担材料院所有国家自然科学基金,973、国家攻关计划中涉及的微观结构观测和分析的工作;如:帮助我院郑子樵教授课题组发现了AL-Cu-Mg合金中添加微量Ge后形成的大量尺寸在3-4nm新析出相,解开了Ge的添加大幅提高合金时效强度的原因,相关工作先后发表在Scripta、Acata Materials;帮助我院李红英教授和郑子樵教授发现并鉴别出Al-Cu-Li系合金中未曾报道过的一种立方形态的析出相,根据对这种相的分析,08年申请成功一项国家自然科学基金青年基金;
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