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高低真空扫描电子显微镜(High/Low Vacuum Scanning electron microscope)
所在单位：	中南大学
品牌/型号：	日本JEO LTD，JSM-6360LV
所在地区：	湖南省
仪器说明：	我们目前尚未与中南大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过点击此处提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：票正规发票合委托合同保交易担保退不满意退款优优选服务商

所有仪器

（1）高真空模式二次电子图像和背散射电子图像观察、低真空模式背散射电子图像观察；（2）除氢、氦、锂以外的所有元素能谱的定性和半定量分析

高真空模式分辨率：3.0nm；低真空模式分辨率：4.0nm；放大倍数：×5～×300,000；探测器：二次电子探测器、高灵敏度半导体探测器；图像种类：二次电子像、背散射电子像（成分像、拓扑像、立体像）

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