分析型扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope(SEM))
东北电力大学
日本电子,JSM-6510
吉林省
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检测范围

观测样品的表面、切面、断面结构

仪器参数

放大倍数:5倍~30万倍

仪器特色&服务特色

材料分析数据
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