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透射电子显微镜(Electron Microscope)
延边大学
日本电子株式会社，JEM-1200EX
吉林省
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检测范围

可以对样品直接进行观察。拍摄结果图片衬度良好，膜结构、微丝、细胞形态清晰。纳米材料领域，可以实现对纳米结构的形貌观察，便于对纳米材料的细微结构进行深入分析。选区电子衍射功能可清晰地拍摄到样品的衍射花样，用于确认晶体结构。

仪器参数

分辨率0.14纳米，最高放大倍数100万倍。
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