检测范围
1.定性物相分析2.定量物相分析（给积分强度数据）3.晶粒大小4.高温相变测定（室温至1000°C） 5.高温相变测定（1000 °C 以上）6.晶格常规测定7.晶系测定
仪器参数
1.极限压力≤5*10-4Pa 2.恢复真空抽气时间：从1*105到2*10-3小于20min. 3.磁偏转e型电子枪，功率6KW 4.烘烤温度最高350度，功率4.5KW 5.真空系统：KT-500扩散泵，2X70A真空泵 6.膜厚控制为石英晶体膜厚控制仪
仪器特色&服务特色
1. 基于磁性FePt纳米粒子－发光量子点的核壳纳米结构构筑和半导体界面层对其磁光性质的调控研究， 国家自然科学基金面上项目(21371071)，2014.01-2017.12.
2. 多功能半导体-金属复合物图纹结构SERS活性基底构建及其在POPs可循环检测中应用研究，国家自然科学基金面上项目（61575080），2016.01-2019.12.
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