扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope)
南开大学
ZEISS,MERLIN Compact
天津市
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检测范围

高分辨率表面形貌观察 能谱分析

仪器参数

加速电压为0.1~30kV。
探针电流5pA~20nA。
分辨率:
0.8nm at 30kV (STEM模式)
0.8nm at 15kV
1.6nm at 1 kV

仪器特色&服务特色

观察到三氧化二铝多空模板中的孔隙大小和排列情况。
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