场发射透射式电子显微镜(HRTEM)
天津大学
荷兰飞利浦公司,Tecnai G2 F20
天津市
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分析仪器

检测范围

可对金属、无机非金属材料、陶瓷材料和各种纳米材料进行透射电子显微像,高分辨像,电子衍射,扫描透射分析,能谱微区点、线和面的元素成分分析。对样品进行能量过滤像和能量损失谱分析。

仪器参数

Schottky场发射枪;加速电压范围:50kV-200kV;TEM放大倍数:25x-1000,000x;点分辨率:0.24nm;线分辨率:0.10nm;信息分辨率≤0.15nm。
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