场发射扫描电子显微镜(Field Emission Scanning Electron Microscopy)
电子科技大学
日本电子株式会社,JSM-7600F|| ||放大倍数:>10万倍 分辨率:<2nm
四川省
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所有仪器

分析仪器

检测范围

用于膜层及体相材料表面微观形貌,尺寸的观察,及选区中元素的组成,含量的定量分析

仪器参数

25-1000000x 加速电压:0.1KV~30KV 分辨率:1.0nm(15KV)/1.5nm(1KV)

仪器特色&服务特色

该设备支撑了多项国家和省部级的重大项目,如国防科工局十二五预研项目,国家自然基金项目以及为电磁辐射控制材料的研发提供了关键技术支持。
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