IC-CAP参数抽取及器件建模分析系统(IC-CAP for Parameter Extraction and Device Modeling)
电子科技大学
Agilent,85225EE40|| ||45MHz-40GHz
四川省
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检测范围

85225 系列系统是全集成的高能建模系统,它为半导体件制作工艺提供直流至射频器件全面测量和建模能力。

仪器参数

矢网:45MHz~40GHz;阻抗分析,特征参数测试
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