扫描电子显微镜-测试100仪器共享平台

扫描电子显微镜(Scanning Electronic microscopy)
所在单位：	电子科技大学
品牌/型号：	ＪＥＯＬ公司，JSM-6490LV\|\| \|\|10万倍放大分辨率3nm 30KV
所在地区：	四川省
仪器说明：	我们目前尚未与电子科技大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过点击此处提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：票正规发票合委托合同保交易担保退不满意退款优优选服务商

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显微结构观察：高压和低压模式下的二次电子表面形貌像(SEI)、背散射电子（BEI）形貌和成分像、二次电子与背散射电子混合像等；电子探针微区成分检测：可进行多元素的点分析、线分析和面分布检测。

加速电压0.3-30kV，分辨率3.0nm(30kV) 放大倍数5-300000，200mm大样品室。

支撑5个973项目，3个核高基项目，20余项国家级课题研究；为32家电子和机电企业提供研发和产品质量监督服务。

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