扫描电子显微镜(Electro Microscopy)
广西壮族自治区产品质量检验研究院
日立,JSM-6610LV
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检测范围

主要用于物质结构分析,材料断面解析和掺杂掺假等方面

仪器参数

1、分辨率:二次电子探头 3.0nm (30kV)  15nm (1kV)    8nm (3kV)
2、背散射电子探头:4.0nm
3、加速电压  0.3 - 30KV 连续可调
4、放大倍率5X - 300,000X ; 放大倍率预设  5档(用户可选择)
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