高分辨场发射扫描电子显微分析系统(High-resolution field-emission scanning electronic microscope analytical system (FEG HRSEM))
昆明理工大学
FEI香港有限公司EDAX公司QUORUM公司,Nova NanoSEM 450
云南省
我们目前尚未与昆明理工大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器,建议您联系相关单位,以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求,委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试,我们将为您提供以下保障:

检测范围

本设备主要面向金属、半导体、陶瓷、纳米材料、功能材料、催化剂的研究和技术开发,用于观察分析以上固体物质和材料的表面形貌和组织结构,不同物质的组分及元素分布,多晶体取向分析等。

仪器参数

分辨率:  二次电子(SE)像,高真空模式:15 kV时1.0 nm,1 k V时优于1.4 nm(非减速模式),低真空模式:30 kV时1.8nm;放大倍率:范围35 ~ 1,000,000倍;着陆电压:50V ~ 30 kV;电子枪:肖特基场发射电子枪;电子束流:0.6pA ~ 200 nA,连续可调
如果找不到合适的仪器,您可以提交您的需求,由我们帮您匹配最优的服务商 提交需求