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扫描开尔文探针(Scanning Kelvin Probe)
南昌航空大学
英国KP Technology公司，RHC020
江西省
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检测范围

测量导体材料的表面功函数或半导体、绝缘表面的表面势。

仪器参数

1、技术：无损表面分析技术;2、功函数分辨率 ：5-10 meV(50微米针尖)；3、针尖到样品表面距离可以达到400纳米以内;4、功函数或表面势、样品形貌3维地图绘制;5、测定湿度可控。

仪器特色&服务特色

科研项目、论文，专利等。
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