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扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope)
湖北航天化学技术所
日本电子公司，JSM-6360LV
湖北省
我们目前尚未与湖北航天化学技术所提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：

检测范围

主要用于各种固体材料的显微形貌分析和显微结构分析，包括晶界的状态测量、晶体/晶粒的相鉴定、晶体、晶粒取向测量等

仪器参数

放大倍数 15～300，000
高真空分辨率 3.0nm
低真空分辨率 4.5nm
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