扫描电子显微镜(能谱仪)
武汉材料保护研究所
日本JEOL,JSM-6510LV
湖北省
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仪器参数

放大倍数 5-300,000倍
分辨率 高真空:3nm(30KV)/8nm(3KV)/15nm(1KV) 低真空:4.0nm(30KV)
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