X射线粉末衍射仪(X-vay Powdev diffraction)
武汉科技大学
PHILIPS,X,pert MPD Pro
湖北省
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分析仪器

检测范围

用途: 能进行高精度的物相定性,定量分析; 晶体结构参数的准确测定及镶嵌块尽寸,品格畸变,宏观内应力的测定和薄膜衍射,反射实验; 高温附件能进行材料的相变过程研究。

仪器参数

X射线发生器:
电源稳定度0.005%;
陶瓷X光管:Pmax 2.2kW Umax 60KV Imax 55MA;焦斑 0.4 12mm。
θ/θ测角仪:精度±0.0001o,
角度重现性0.0001o;
测角仪半径:240mm;
角范围(2θ):0~167o
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