透射电子显微镜(-)
国防科学技术大学
FEI公司,FEI Tecnai F20
湖南省
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检测范围

TEM成像、电子衍射、STEM成像、元素分析。

仪器参数

样品测量分辨率:0.14nm;明场、暗场成像;电子衍射选区分析、能谱分析。
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