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扫描探针显微镜(-)
国防科学技术大学
NT-MDT，Solver
湖南省
我们目前尚未与国防科学技术大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：

检测范围

可用来测量刻蚀掩膜、磁介质、生物材料、光学材料和其它样品的表面特性。利用SCM（扫描电容显微术）模块可以测量半导体材料的掺杂浓度，禁带宽度等。

仪器参数

分辨率：横向0.2nm；垂直0.03 nm；扫描范围：100μmx100μmx5μm。
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