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场发射扫描电镜(-)
国防科学技术大学
日本日立公司，HITACHI S-4800
湖南省
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检测范围

应用于无机材料、高分子材料、复合材料、纳米材料、半导体材料、微纳器件中。

仪器参数

分辨率：15kV，1nm；1kV，2nm；放大倍数：30－800,000。
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