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扫描式电子显微镜(Scanning Electron Microscope)
南昌航空大学
美国FEI公司，Quanta200
江西省
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检测范围

表面形貌观察、断口形貌观察、元素定性及半定量。

仪器参数

1) 分辨率：
高真空模式 3.0nm @ 30kV, 10nm @ 3kV；
低真空模式 3.0nm @ 30kV, 12nm @ 3kV；
环境真空模式 3.0nm @ 30kV；
背散射电子像 4.0nm @ 30kV；
2) 加速电压：200V～30kV，连续调节；
3) 样品台移动范围：X=Y=50mm；

仪器特色&服务特色

科研项目、论文，专利等。
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