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电子探针显微分析仪(Electron Probe Microanalyzer)
所在单位：	同济大学
品牌/型号：	日本电子株式会社，JXA-8230
所在地区：	上海市
仪器说明：	我们目前尚未与同济大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过点击此处提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：票正规发票合委托合同保交易担保退不满意退款优优选服务商

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可实现40~30万倍的图像观察，空间分辨率5nm，可获取高品质的背散射图像(BSE)、二次电子图像(SE)和阴极发光图像(CL)；波谱仪可定量分析Be~U常量元素。能谱仪可定性、半定量分析B~U元素。

二次电子图像分辨率≦ 6.0nm（钨灯丝），≦5.0nm （六硼化棶灯丝）。背散射电子像分辨率：≤20nm；检测元素范围：B~U；检测极限0.01wt%。

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