稳态荧光光谱及测试系统(无)
晶体材料国家重点实验室
EDIN BURGH,FLS920
山东省
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仪器参数

FLS920型荧光谱仪采用T型结构,可见波段(300-800nm),采用半导体制冷的单光子记数光电倍增管作为检测器,远红外波段(800nm-1700nm),采用Ge探测器两个波段采用一个激发光源,两个检测光路,分开处理,完全由计算机控制切换.波长分辨率可达0.1nm,时间分辨率可达0.1ns.
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