场发射扫描电子显微镜 SEM扫描电镜(SEM)
日立 SU8200
7个工作日
所在地区
  • 四川省
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检测范围

场发射扫描电子显微镜,广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。

样品要求

送检样品必须为干燥固体,块状、片状、纤维状及粉末状均可。
应有一定的化学、物理稳定性,在真空中及电子束轰击下不会挥发或变形;无磁性、放射性和腐蚀性。
含水分较多的生物软组织的样品制备,要求用户自己进行临界点干燥之前的固定、清洗、脱水及用醋酸(异)戊酯置换等处理,进行临界点干燥处理。
观察图像样品应预先喷金膜。
一般情况下,样品尽量小块些 ( ≤10x10x5mm 较方便 ) 。
粉末样品每个需10mg左右。
纳米样品一般需超声波分散,并喷涂超细微金膜。
喷金一次粉末样品10个左右,片状样品视尺寸大小一般2-3个/次

仪器参数

二次电子分辨率:0.8 nm(加速电压 15 kV);1.1 nm(着陆电压 1 kV)
加速电压:0.5~30 kV
着陆电压(减速模式观察):0.1~2 kV
倍率:20~800000倍

仪器特色&服务特色

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