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SEM 扫描电镜 表面形貌分析(SEM)
蔡司 merlin compact
20个工作日
所在地区
  • 陕西省
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服务保障

检测范围

全国最好的SEM之一，放大倍数可达30万倍以上，主要用于表面形貌观察、成分分析、物相结构分析等.

样品要求

块体不高于30mm、粉末10mg以上

仪器参数

SEM、EDS点扫、EDS mapping、磁性样品、超过15万倍、EBSD

仪器特色&服务特色

可以做液体，粉末，块体，磁性样品；配有能量色散荧光光谱仪EDS，可对样品进行点，线，面扫，进行元素定性分析；配有EBSD探头，可做各类样品的EBSD测试；SEM图片默认8-10张，EDS点扫2个位置，mapping1个位置。
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